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发布时间
Jun 13, 2025
摘要
IT之家 6 月 13 日消息微型 LED 是下一代高端显示技术的核心元件搭载微型 LED 的晶圆必须达到 100 的良率否则将会给终端产品造成巨大的修复成本 据新华社报道天津大学精密测试技术及仪器全国重点实验室精仪学院感知科学与工程系黄显教授团队打破了微型 LED 晶圆测试瓶颈实现了微型 LED 晶圆高通量无损测试填补了该领域技术空白 据介绍目前该技术已在天开高教科创园开启产品化进程未来将为国内微型 LED 产业提供批量化无损低成本的检测解决方案进一步拓展柔性电子技术的应用领域 简单来说传统的晶圆良率检测方法有的如铁笔刻玉会造成晶圆表面不可逆的物理损伤有的则只能观其大概存在较高的漏检率和错检
来源
IT之家